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CMC-KUHNKE無損卷封檢測(cè)系統(tǒng)

CMC-KUHNKE無損卷封檢測(cè)系統(tǒng)

簡要描述:CMC-KUHNKE無損卷封檢測(cè)系統(tǒng)是一個(gè)獨(dú)立的測(cè)量系統(tǒng),可為圓形罐(鋁或鋼)提供無損二重卷封檢測(cè)。 該系統(tǒng)執(zhí)行無損橫截面測(cè)量和 360° 緊密度掃描。可實(shí)現(xiàn)卷封高度,卷封間隙,身鉤,蓋鉤,疊接度,身鉤率,迭接率,緊密度的無損測(cè)量。

產(chǎn)品型號(hào): SSW-XTS-III

所屬分類:罐裝檢測(cè)

更新時(shí)間:2023-08-04

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

詳情介紹
品牌其他品牌應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,能源,制藥,綜合

新的 SEAMscan XTS III 第 3 代 XTS 是一個(gè)獨(dú)立的測(cè)量系統(tǒng),可為圓形罐(鋁或鋼)提供無損二重卷封檢測(cè)。 該系統(tǒng)執(zhí)行無損橫截面測(cè)量和 360° 緊密度掃描。 該系統(tǒng)提供更快的檢查結(jié)果,并降低了勞動(dòng)力成本。

罐子被手動(dòng)裝載到設(shè)備中,然后自動(dòng)執(zhí)行所有測(cè)量。 罐頭可以被保留以進(jìn)行額外測(cè)試或送回生產(chǎn)。 XTS 的虛擬卷封拆卸技術(shù)提供高度準(zhǔn)確的二重卷封檢測(cè)數(shù)據(jù),同時(shí)顯著減少產(chǎn)品損壞。

XTS X射線卷封及緊密度掃描儀系列,全球產(chǎn)品

SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀是一款全新的,無損傷且獨(dú)立運(yùn)行的二重卷封和卷封緊密度檢測(cè)儀器。卷封結(jié)構(gòu)原自然狀態(tài)檢測(cè),系統(tǒng)提高精度,節(jié)約時(shí)間,節(jié)省大量的檢測(cè)成本。

專為制罐商和罐裝廠打造的SEAMscan XTS™擁有高分辨率的卷封檢測(cè)和功能強(qiáng)大的緊密度自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng),儀器結(jié)構(gòu)緊湊,操作簡便。

無損傷檢測(cè),節(jié)約大量的檢測(cè)樣品

SEAMscan XTS™不需要切割就能完整檢測(cè)二重卷封內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸。

SEAMscan XTS™僅不損傷檢測(cè)樣品的優(yōu)勢(shì),就能為制罐商和罐裝廠節(jié)約數(shù)以十萬計(jì)的成本。經(jīng)過二重卷封蓋鉤皺紋度(卷封緊密度),以及前面提到的卷封內(nèi)部結(jié)構(gòu)尺寸檢測(cè)的產(chǎn)品,還能100%的用于銷售。SEAMscan XTS™同時(shí)能達(dá)到FDA對(duì)二重卷檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)。

SEAMscan XTS也是一款能*適應(yīng)生產(chǎn)工廠環(huán)境的二重卷封檢測(cè)工具,既實(shí)現(xiàn)從卷封外部評(píng)估二重卷封質(zhì)量,又節(jié)約檢測(cè)成本。

不再需要?jiǎng)冸x拆卸卷封

質(zhì)檢人員不再需要拆卸卷封來查看蓋鉤的皺紋度。SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀自動(dòng)掃描全部蓋鉤的皺紋度,測(cè)量并報(bào)告客觀的緊密度數(shù)值。

采用技術(shù)的SEAMscan XTS™ X射線緊密度掃描儀,無需人員參與檢測(cè),能耗更低,采用無損傷的X射線檢測(cè)二重卷封內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

“我們?cè)?0世紀(jì)90年代就能夠通過我們的SEAMscan軟件配合投影設(shè)備檢測(cè)蓋鉤皺紋度"CMC-KUHNKE的CEO Alex Grossjohann說道,“但是那套系統(tǒng)僅看到從二重卷封上拆卸下來的蓋鉤的表面影像。XTS不單單是在不損傷卷封的情況下檢測(cè)蓋鉤皺紋度,檢測(cè)的詳細(xì)程度也是比傳統(tǒng)檢測(cè)方式高出很多。"

不再評(píng)估緊密度,而是測(cè)量緊密度

人為錯(cuò)誤已經(jīng)成為過去——至少在二重卷封領(lǐng)域。

X射線緊密度掃描儀檢測(cè)二重卷封結(jié)構(gòu)尺寸,以及全球技術(shù)的測(cè)量卷封內(nèi)部的皺紋度。蓋鉤皺紋度的檢測(cè)結(jié)果會(huì)自動(dòng)發(fā)送到電腦數(shù)據(jù)庫,電腦可以實(shí)時(shí)顯示卷封質(zhì)量變化趨勢(shì)分析結(jié)果。

轉(zhuǎn)用的X射線穿過二重卷封,探測(cè)蓋鉤形狀的微妙變化。電腦通過程序算法分析卷封內(nèi)部各個(gè)部位的變化情況,以確定是否對(duì)卷封的密封情況造成影響。檢測(cè)結(jié)果可以使緊密度百分比,亦或是皺紋度或緊密度平均值的形式顯示。

通過行Virtual Seam Teardown™(卷封虛擬拆卸)功能,可以看到身鉤和蓋鉤彼此疊接的真實(shí)情況,是以往無法想象的。


檢測(cè)項(xiàng)目 :  卷封高度,卷封間隙,身鉤,蓋鉤,疊接度,身鉤率,迭接率,緊密度

精度 :  卷封檢測(cè)

適用罐型 :  200 (52 mm)-603 (153 mm)

檢測(cè)速度 :  卷封內(nèi)部結(jié)構(gòu)45秒/罐,全檢70秒/罐

單位 :  Inch, mm, %

分辨率 :  卷封

語言 :  多種語言供選擇

電源 :  100-240 VAC, 50/60 Hz




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