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多通道電化學(xué)工作站是一種電化學(xué)實(shí)驗(yàn)儀器，可以同時(shí)對(duì)多個(gè)電極進(jìn)行電化學(xué)測(cè)量和控制。其主要應(yīng)用于電化學(xué)分析、電化學(xué)合成、電化學(xué)儲(chǔ)能等領(lǐng)域的研究和開發(fā)。多通道電化學(xué)工作站通常包括多個(gè)通道，每個(gè)通道都有單獨(dú)的電位控制和電流監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，可以獨(dú)立地控制和記錄每個(gè)電極的電化學(xué)反應(yīng)過程。

武漢科思特電化學(xué)腐蝕摩擦磨損試驗(yàn)儀CS400Z電化學(xué)腐蝕摩擦磨損試驗(yàn)儀內(nèi)置CS電化學(xué)工作站，針對(duì)材料表面及薄膜在不同載荷、不同轉(zhuǎn)速在腐蝕液體中進(jìn)行旋轉(zhuǎn)運(yùn)動(dòng)形式的摩擦性能和耐磨強(qiáng)度進(jìn)行定量評(píng)價(jià)。主要模擬海、

武漢科思特絲束電電位電流掃描儀CST520陣列電電位電流掃描儀采用1010陣列（絲束）電來(lái)模擬整塊金屬試樣表面，通過自動(dòng)掃描WBE表面的電位/電流分布，可得到涂層或生物膜下的電電位及偶接電流分布，評(píng)估金屬材料的局部腐蝕行為。

武漢科思特電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲監(jiān)測(cè)儀CST500電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀全部由高品質(zhì)CMOS和BiFET®集成電路組成，用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電偶腐蝕或者電化學(xué)噪聲信號(hào)。

武漢科思特犧牲陽(yáng)電化學(xué)性能試驗(yàn)儀GB/T4948-1985 鋁-鋅-銦系合金犧牲陽(yáng)恒電流電化學(xué)性能測(cè)試方法 GB/T4950-1985鋅-鋁-鎘合金犧牲陽(yáng)電化學(xué)性能測(cè)試方法（恒電流法） GB/T 17848-1999 犧牲陽(yáng)電化學(xué)性能試驗(yàn)方法